安賽斯光彈系數(shù)測試儀(ANA6000P-V)是應用偏振光干涉原理對應力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學構件模型進行實驗應力測試的儀器，簡稱光彈儀。應用它可以測試 SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件內部的應力雙折射/殘余應力，以圖像形式直觀觀察被測件的應力分布和應力集中情況。
 

　　主要技術參數(shù)：
 

　　1.測試面積(即光源尺寸)
 

　　標準尺寸為300 mm×300mm，其它尺寸可以定制，最大600mm×500mm；
 

　　2.相機參數(shù)
 

　　2248*2048原始分辨率，輸出4幅1224*1024的偏振圖像。幀率36或79。
 

　　3.應力雙折射量程
 

　　基本型: 量程為工作波長的1/4(以紅光為例，量程即157.5nm)；
 

　　增強型：2296nm。需要采用藍、綠兩種顏色的光源進行測試，并進行相位解包裹處理；
 

　　4.測試分辨率與精度
 

　　以 0.8mm 厚的鈣鈉玻璃為例：應力測試的分辨率為 0.2MPa：應力測試的精度：1.0MPa。
 

　　應力雙折射的測試分辨率：0.1nm, 精度：1.0nm；
 

　　產(chǎn)品特色：
 

　　與傳統(tǒng)/常規(guī)的光彈儀相比，本光彈儀具有如下特點：
 

　　1.結構簡單
 

　　主要部件包括：偏振光源、傾斜平臺(用于晶體試件測試)、濾光片轉輪、像素偏振相機、高配筆記本電腦(內存 16G 以上)及處理軟件，不含任何可旋轉的光學偏振器件。
 

　　2.操作簡單，可以實現(xiàn)快速甚至實時測試
 

　　只需一次拍照即可同時獲取試件的相位差場和主應力方向場，避免了傳統(tǒng)方法在定量測試時的復雜操作，且在平面應力的條件下可以分離出各應力分量；
 

　　3. 靈敏度高且不受環(huán)境光的干擾
 

　　測試靈敏度是傳統(tǒng)光彈法/設備的兩倍(物理靈敏度)，且無論相位差多小，都可以用最大的灰度梯度圖像表示(顯示靈敏度高)；由于采用不同偏振圖像之間的相減運算，使得測試幾乎不受環(huán)境光的干擾。
 

　　4.多種測試波長可選并快速切換
 

　　切換方式包括RGB 三色 LED 光源(中心波長分別為：625nm、525nm 和 465nm)的切換以白光光源下不同的窄帶濾光片的輪換。
 

　　5.可以根據(jù)客戶要求定制產(chǎn)品
 

　　在某些特殊情況下，客戶需要用自己的相機和光源，我們可以根據(jù)需要對產(chǎn)品進行定制，滿足客戶的需要。
 

對徑壓縮圓盤的相位差場分布
 

 

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　　U型塊壓彎組合實驗：
 

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　　光彈性方法直觀,能直接顯示應力集中區(qū)域，并準確給出應力集中部分的量值；它不但可以得到便捷應力而且能夠求的結構的內部應力。特別是這一方法不受形狀和載荷的限制，可以對工程復雜結構進行應力分析。